2022-02-11 17:28发布
在使用TRL在片校准校准方式对矢网进行校准到50G，但在高频40几G时测得的s参数会有凹坑现象，这是矢网校准方法原因还是校准件原因呢？
抛开测试电缆和探针的因素，主要是校准件质量的问题，当然，如果不想改进TRL校准件，可以改用LRRM或者Multi-Line TRL校准，凹陷会减小。
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抛开测试电缆和探针的因素，主要是校准件质量的问题，当然，如果不想改进TRL校准件，可以改用LRRM或者Multi-Line TRL校准，凹陷会减小。
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