2022-02-14 11:36发布
在片晶圆校准 怎样对功放测试 进行全面的校准?比如测噪声系数。
通常用PNA-X进行单次连接下的多种测量。在PNA-X上创建S参数、增益压缩、噪声系数、三阶交调等多种测量通道,然后在探针端面用CalAll一次性校准所有测量通道。CalAll校准时,在功率计设置步骤选中de-embed adapter,向导会自动引导做同轴端面的功率校准,以及同轴和在片两个端面的S参数校准,这样可以提取探针的特性参数,把功率精度从同轴端面迁移到探针端面。这样所有的测量端面都在探针端面。
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通常用PNA-X进行单次连接下的多种测量。在PNA-X上创建S参数、增益压缩、噪声系数、三阶交调等多种测量通道,然后在探针端面用CalAll一次性校准所有测量通道。CalAll校准时,在功率计设置步骤选中de-embed adapter,向导会自动引导做同轴端面的功率校准,以及同轴和在片两个端面的S参数校准,这样可以提取探针的特性参数,把功率精度从同轴端面迁移到探针端面。这样所有的测量端面都在探针端面。
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